蔡康光学自行研发、设计、生产的半导体温控台，采用碲化铋作为 TEC 核心组件。高温焊料使核心元件比市场同类型设备耐高温阈值提升 80℃以上。使用陶瓷隔热材料使台体本身厚度降低 20%。

1、主要用途：对变温速度需求较高的温度测试，对噪音、 震动、废气约束严格的温度测试

2、最高变温速度：2℃/s。

     3、产品特点：体积小 ，变温速率高、无震动、低噪声。

半导体冷热台与各类显微镜、光谱仪、扫描电镜等光学仪器设备联用，进行变温下的光学观察及测试。

实现样品开放式 / 气密 / 真空环境下的变温光学观察及测试。可选择腔室气密\真空。

真空度可达 10^ −4 mbar。支持额外增加 4~8 路探针以进行不同温度下的电学测试。

                                       组态屏控制界面